Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "IEC - Všechny - strana 802" dle:    


IEC 62047-41-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)

Norma vydána dne 15.6.2021

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 298.60


SKLADEM
IEC 62047-42-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Norma vydána dne 16.9.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 106.80


SKLADEM
IEC 62047-43-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Norma vydána dne 19.3.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 670.50


SKLADEM
IEC 62047-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

Norma vydána dne 22.2.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 670.50


SKLADEM
IEC 62047-45-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures

Norma vydána dne 20.3.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 553.40


SKLADEM
IEC 62047-46-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane

Norma vydána dne 23.4.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 553.40


SKLADEM
IEC 62047-47-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures

Norma vydána dne 23.8.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 553.40


SKLADEM
IEC 62047-48-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device

Norma vydána dne 7.6.2024

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 553.40


SKLADEM
IEC 62047-49-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers

Norma vydána dne 25.11.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
638.40


SKLADEM
IEC 62047-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)

Norma vydána dne 13.7.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 298.60


SKLADEM

Zobrazen záznam od 8010 až 8020 z celkem 11506 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.