Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 62047-32-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 32: Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 32: Methode d’essai pour la vibration non lineaire des resonateurs MEMS)
Norma vydána dne 24.1.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-33-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
Norma vydána dne 5.4.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-34-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Norma vydána dne 5.4.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-35-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 35 : Methode d’essai des caracteristiques electriques sous deformation par courbure de dispositifs electromecaniques souples)
Norma vydána dne 22.11.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-36-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
Norma vydána dne 5.4.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-37-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 37: Methodes d’essai d’environnement des couches minces piezoelectriques MEMS pour les applications de type capteur)
Norma vydána dne 28.4.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-38-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
Norma vydána dne 23.6.2021
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-4-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Norma vydána dne 7.1.2026
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-4-ed.2.0-RLV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Norma vydána dne 7.1.2026
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 62047-40-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
Norma vydána dne 3.9.2021
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
