Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.2.2024
Označení normy: IEC 62047-44-ed.1.0
Datum vydání normy: 22.2.2024
Kód zboží: NS-1168221
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62047-44:2024 describes terminology, definitions and test methods that are used to evaluate and determine the dynamic performance of MEMS (Micro-Electromechanical Systems) resonant electric-field-sensitive devices. It also specifies sample requirements and test equipment for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices. The statements made in this document are also applicable to MEMS resonant electric-field-sensitive devices with various driving mechanisms such as electrostatic, electrothermal, electromagnetic, piezoelectric, etc.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 01.07.2026 (Počet položek: 2 285 809)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.