Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

IEC 60749-27-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model stroje (MM)

NORMA vydána dne 18.7.2006

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 2 538.60 Kč Tištěné - 2 538.60 Kč CD-ROM - 2 578.30 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	2538.60 Kč bez DPH
2 538.60 Kč
	Objednat včetně změn

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60749-27-ed.2.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Kód zboží: NS-411392
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Anotace textu normy IEC 60749-27-ed.2.0 :

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive Etablit une procedure normalisee pour les essais et les classements des dispositifs a semiconducteurs en fonction de leur sensibilite aux dommages ou a la degradation du fait de leur exposition a une decharge electrostatique (DES) sur un modele de machine (MM) defini. Elle peut etre utilisee comme une methode dessai en variante a la methode dessai de DES sur le modele du corps humain. Lobjectif est de fournir des resultats dessai de DES fiables et reproductibles de maniere a ce que des classifications precises puissent etre realisees. Cette methode dessai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs et elle est classee destructive.

K této normě náleží tyto změny:

Náhled IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 25.9.2012

IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Změna vydána dne 25.9.2012

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (317.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

317.30 Kč

SKLADEM