Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 16: Detekce kročejového hluku částic (PIND)
NORMA vydána dne 17.1.2003
Označení normy: IEC 60749-16-ed.1.0
Datum vydání normy: 17.1.2003
Kód zboží: NS-411373
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).
25.2.2010
11.12.2001
30.8.2010
30.8.2010
11.12.2012
29.9.2000
Poslední aktualizace: 26.01.2026 (Počet položek: 2 257 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.