Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy DIN - Německé národní normy - strana 16674
DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
DIN EN 60749-4:2003-04
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST). .)
NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-4:2016-06
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2016
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN IEC 60749-40:2009-06
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-41:2017-04
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.
NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-42:2012-07
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature humidity storage.
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2012
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-43:2013-10
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.
NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2013
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
DIN EN 60749-43:2018-05
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 43: Pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti integrovaných obvodů (IC). .)
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2018
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-44:2014-08
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
E DIN EN 60749-5:2002-06
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.
NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
DIN EN 60749-5:2003-09
NEPLATNÁ
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. .)
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
