Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN 60749-44:2014-08 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Neutron paprsek ozářeno jediný efekt události (viz) Zkušební metoda pro polovodičových součástek.
NORMA vydána dne 1.8.2014
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN 60749-44:2014-08
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2014
Kód zboží: NS-291925
Počet stran: 33
Přibližná hmotnost: 99 g (0.22 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN EN 60749-44:2014-08 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
