Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5 : ustáleného stavu teplota vlhkost zaujatost život test.
NORMA vydána dne 1.6.2002
Označení normy: E DIN EN 60749-5:2002-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2002
Kód zboží: NS-291926
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 20.04.2026 (Počet položek: 2 274 419)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.