Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN EN 60749-41:2017-04 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.4.2017
Informace o normě:
Označení normy: E DIN EN 60749-41:2017-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2017
Kód zboží: NS-677970
Počet stran: 35
Přibližná hmotnost: 105 g (0.23 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN EN 60749-41:2017-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.
Doporučujeme:
