Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 60749-40:2009-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40 : Board level pokles zkušební metody pomocí tenzometru.
NORMA vydána dne 1.6.2009
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 60749-40:2009-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2009
Kód zboží: NS-303092
Počet stran: 43
Přibližná hmotnost: 129 g (0.28 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 60749-40:2009-06 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.
Doporučujeme:
