Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16671

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16671" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (40178)

Neplatné (159580)

Náhled E DIN IEC 60749-28:2003-02 1.2.2003

E DIN IEC 60749-28:2003-02 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2003

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1545.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 545.40 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-28:2012-07 1.7.2012

E DIN EN 60749-28:2012-07 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2012

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2720.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 720.90 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-28:2018-02 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - Úroveň součástky. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2018

Vybrané provedení:

Německy -

Tištěné (3100.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 100.30 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 1.5.2024

E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2024

Vybrané provedení:

Německy -

Tištěné (1385.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 385.90 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-29:2002-09 1.9.2002

E DIN EN 60749-29:2002-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2223.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 223.40 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-29:2004-07 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2004

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (2401.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 401.50 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-29:2009-11 1.11.2009

E DIN EN 60749-29:2009-11 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2720.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 720.90 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-3:2003-04 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (837.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

837.80 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-3:2017-05 1.5.2017

E DIN EN 60749-3:2017-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2017

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1707.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 707.60 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN IEC 60749-30:2003-06 1.6.2003

E DIN IEC 60749-30:2003-06 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2003

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1707.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 707.60 Kč

do 7 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 166700 až 166710 z celkem 199758 záznamů.