Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: elektrostatický výboj (ESD) Citlivost Testovací - Přímý kontakt nabitý model zařízení (DC-CDM).
NORMA vydána dne 1.7.2012
Označení normy: E DIN EN 60749-28:2012-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2012
Kód zboží: NS-291916
Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 13.10.2025 (Počet položek: 2 236 956)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.