Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).
          Automaticky přeložený název:
          Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: elektrostatický výboj (ESD) Citlivost Testovací - Přímý kontakt nabitý model zařízení (DC-CDM).        
      
NORMA vydána dne 1.7.2012
    
        Označení normy: E DIN EN 60749-28:2012-07
                
                
                
                Poznámka:    NEPLATNÁ
               
                Datum vydání normy:  1.7.2012
                  Kód zboží:  NS-291916
          Počet stran: 46
Přibližná hmotnost: 138 g (0.30 liber)
        Země:          Německá technická norma (Návrh)
        Kategorie:  Technické normy DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM).
      Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů? 
      Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy. 
      Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
    
Poslední aktualizace: 03.11.2025 (Počet položek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.