Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 60749-30:2003-06 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 30 : Stabilizace non - hermetického pro povrchovou montáž zařízení před testováním spolehlivosti.
NORMA vydána dne 1.6.2003
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 60749-30:2003-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2003
Kód zboží: NS-303085
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 60749-30:2003-06 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.
Doporučujeme:
