Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
E DIN IEC 60749-28:2003-02 (Návrh)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: elektrostatický výboj ( ESD ) testování citlivosti ; Nabité model zařízení ( CDM ).
NORMA vydána dne 1.2.2003
Informace o normě:
Označení normy: E DIN IEC 60749-28:2003-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.2.2003
Kód zboží: NS-303084
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy E DIN IEC 60749-28:2003-02 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).
Doporučujeme:
