Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-29:2004-07
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku)..
NORMA vydána dne 1.7.2004
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-29:2004-07
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2004
Kód zboží: NS-237819
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Anotace textu normy DIN EN 60749-29:2004-07 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
