Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.
          Automaticky přeložený název:
          Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola..        
      
NORMA vydána dne 1.4.2003
    
        Označení normy: DIN EN 60749-3:2003-04
                
                
                
                Poznámka:    NEPLATNÁ
               
                Datum vydání normy:  1.4.2003
                  Kód zboží:  NS-237820
          Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
        Země:          Německá technická norma
        Kategorie:  Technické normy DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.
Poslední aktualizace: 03.11.2025 (Počet položek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.