NEPLATNÁ DIN EN 60749-3:2003-04 1.4.2003 náhled

DIN EN 60749-3:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 3: Vnější vizuální kontrola..



NORMA vydána dne 1.4.2003


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena799.30 bez DPH
799.30

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-3:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.4.2003
Kód zboží: NS-237820
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-3:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.