Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16542

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16542" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (40126)

Neplatné (157990)

Náhled E DIN EN 60749-27:2005-05 1.5.2005

E DIN EN 60749-27:2005-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2005

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1865.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 865.90 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-27:2007-01 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Strojový model (MM)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2007

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1865.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 865.90 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-27/A1:2011-10 1.10.2011

E DIN EN 60749-27/A1:2011-10 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1009.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 009.80 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN IEC 60749-28:2003-02 1.2.2003

E DIN IEC 60749-28:2003-02 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2003

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1529.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 529.20 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-28:2012-07 1.7.2012

E DIN EN 60749-28:2012-07 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing - Direct contact charged device model (DC-CDM).

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2012

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2692.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 692.50 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-28:2018-02 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 28: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model nabité součástky (CDM) - Úroveň součástky. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2018

Vybrané provedení:

Německy -

Tištěné (3067.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 067.90 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 1.5.2024

E DIN EN IEC 60749-28:2024-05 NEPLATNÁ

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2024

Vybrané provedení:

Německy -

Tištěné (1371.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 371.40 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-29:2002-09 1.9.2002

E DIN EN 60749-29:2002-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2200.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 200.20 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-29:2004-07 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2004

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (2376.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 376.40 Kč

SKLADEM