Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2009
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST.
NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2002
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Rapid change of temperature (air, air).
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM).
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2005
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2007
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge sensitivity testing - Human body model (HBM) - Component Level.
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2011
Vybrané provedení:
VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). .)
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2014
Vybrané provedení:VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
NEPLATNÁ vydána dne 1.7.2017
Vybrané provedení:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM).
NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2002
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 10.06.2026 (Počet položek: 2 281 585)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.