GB - Všechny - strana 8779 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6613-1986 NEPLATNÁ

Titanium alloy TC4 sheet and plate for important applications

NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB 6614-1986 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Zobrazit všechny technické informace

NA DOTAZ

Není skladem

GB/T 6614-1994 NEPLATNÁ

Titanium and titanium alloy castings

NEPLATNÁ vydána dne 9.5.1994

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB 6615-1986 NEPLATNÁ

Standard method for resistivity of silicon slices with collinear four-probe array measuring

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (14821.70 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

14 821.70 Kč

do 4 pracovních dnů

GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6903.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 903.60 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7893.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 893.30 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6617-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7893.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 893.30 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6618-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 87780 až 87790 z celkem 94224 záznamů.