Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.10.2009
Označení normy: GB/T 6616-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Kód zboží: NS-888239
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 26.04.2026 (Počet položek: 2 274 794)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.