Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.1986
Označení normy: GB 6618-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1986
Kód zboží: NS-1236709
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 17.05.2026 (Počet položek: 2 278 942)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.