GB - Všechny - strana 8780 | NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (8883.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 883.10 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6903.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 903.60 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 662-1978 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1978

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Zobrazit všechny technické informace

NA DOTAZ

Není skladem

GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5913.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 913.80 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6903.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 903.60 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5913.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 913.80 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (10862.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

10 862.60 Kč

do 4 pracovních dnů

GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6623-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (4924.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 924.10 Kč

do 2 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 87790 až 87800 z celkem 94224 záznamů.