Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.1986
Označení normy: GB 6622-1986
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1986
Kód zboží: NS-1236714
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 20.06.2026 (Počet položek: 2 283 412)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.