Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.4.1995
Označení normy: GB/T 6620-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-888246
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 16.09.2024 (Počet položek: 2 433 731)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.