Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.4.1995
Označení normy: GB/T 6616-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-888238
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 16.09.2024 (Počet položek: 2 433 731)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.