Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.4.1995
Označení normy: GB/T 6617-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-888240
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 11.07.2025 (Počet položek: 2 208 012)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.