GB - Všechny - strana 8535 | NORMSERVIS s.r.o.

GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7073.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 073.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (8087.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 087.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6617-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (8087.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 087.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6618-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (9101.10 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

9 101.10 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7073.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 073.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 662-1978 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1978

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Zobrazit všechny technické informace

NA DOTAZ

Není skladem

Zobrazen záznam od 85340 až 85350 z celkem 91717 záznamů.