GB - Všechny - strana 8536 | NORMSERVIS s.r.o.

GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6058.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 058.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7073.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 073.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (6058.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

6 058.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (11129.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

11 129.20 Kč

do 4 pracovních dnů

GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 3 pracovních dnů

GB 6623-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB 6624-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon wafers by visual examination

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6624-1995 NEPLATNÁ

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (5044.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 044.90 Kč

do 2 pracovních dnů

GB/T 6625-1986 NEPLATNÁ

Test methods for nitrogen content of nitrogen-doped getter

NEPLATNÁ vydána dne 25.7.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (7073.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

7 073.00 Kč

do 3 pracovních dnů

GB/T 6626.1-1986 NEPLATNÁ

Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser—Test methods for mercury yield characteristic of getter-mercury dispenser

NEPLATNÁ vydána dne 26.7.1986

Vybrané provedení:

Anglicky a čínsky -

Elektronické PDF (8087.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 087.00 Kč

do 3 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 85350 až 85360 z celkem 91717 záznamů.