Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
Přeložit název
NORMA vydána dne 18.4.1995
Označení normy: GB/T 6624-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Kód zboží: NS-888250
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 16.09.2024 (Počet položek: 2 433 731)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.