Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Odolnost proti vlhkosti - Zrychlené nezaujaté hast
NORMA vydána dne 9.3.2004
Označení normy: IEC 60749-24-ed.1.0
Datum vydání normy: 9.3.2004
Kód zboží: NS-411389
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
The unbiased highly accelerated stress test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetically packaged solid-state devices in humid environments. It employs temperature and humidity under non-condensing conditions to accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it. L essai de resistance a lhumidite acceleree sans polarisation est realise dans le but devaluer la fiabilite des dispositifs a letat solide sous boitiers non hermetiques dans des environnements humides. Utilise une temperature et une humidite dans des conditions sans condensation, pour accelerer la penetration dhumidite a travers le materiau de protection exterieur (agent denrobage ou de scellement) ou par linterface entre le materiau de protection exterieur et les conducteurs metalliques qui le traversent.
18.7.2006
29.9.2010
29.3.2007
19.5.2010
26.4.2010
22.4.2010
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 30.06.2025 (Počet položek: 2 206 311)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.