Norma IEC 62373-ed.1.0 18.7.2006 náhled

IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Automaticky přeložený název:

Stability Zkouška Bias teplotě na kov-oxid, polovodič, tranzistory řízené polem (MOSFET)



NORMA vydána dne 18.7.2006


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2543.00 bez DPH
2 543.00

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62373-ed.1.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Kód zboží: NS-414553
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Kategorie - podobné normy:

Tranzistory

Anotace textu normy IEC 62373-ed.1.0 :

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)

Doporučujeme:

EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě

Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.