Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62373-ed.1.0
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automaticky přeložený název:
Stability Zkouška Bias teplotě na kov-oxid, polovodič, tranzistory řízené polem (MOSFET)
NORMA vydána dne 18.7.2006
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62373-ed.1.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Kód zboží: NS-414553
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62373-ed.1.0 :
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)
Podobné normy:
15.5.1988
29.9.2010
29.3.2007
19.5.2010
26.4.2010
22.4.2010
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
