Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62374-ed.1.0
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Automaticky přeložený název:
Polovodičové zařízení - časově závislé elektrický průraz (TDDB) test na dielektrickou filmy
NORMA vydána dne 29.3.2007
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62374-ed.1.0
Datum vydání normy: 29.3.2007
Kód zboží: NS-414555
Počet stran: 43
Přibližná hmotnost: 129 g (0.28 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62374-ed.1.0 :
Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
