Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Část 1: v závislosti na čase elektrický průraz (TDDB) test na inter-kovových vrstev
NORMA vydána dne 29.9.2010
Označení normy: IEC 62374-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 29.9.2010
Kód zboží: NS-414554
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices. La CEI 62374-1:2010 decrit une methode dessai, une structure dessai et une methode destimation de la duree de vie dun essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermetalliques appliquees dans des dispositifs a semiconducteurs.
Poslední aktualizace: 11.09.2024 (Počet položek: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.