Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62374-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Část 1: v závislosti na čase elektrický průraz (TDDB) test na inter-kovových vrstev
NORMA vydána dne 29.9.2010
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62374-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 29.9.2010
Kód zboží: NS-414554
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62374-1-ed.1.0 :
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices. La CEI 62374-1:2010 decrit une methode dessai, une structure dessai et une methode destimation de la duree de vie dun essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermetalliques appliquees dans des dispositifs a semiconducteurs.
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
