Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Konstantní proud zkouška electromigration
NORMA vydána dne 19.5.2010
Označení normy: IEC 62415-ed.1.0
Datum vydání normy: 19.5.2010
Kód zboží: NS-414598
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 21.07.2025 (Počet položek: 2 209 006)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.