Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 62415-ed.1.0
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Konstantní proud zkouška electromigration
NORMA vydána dne 19.5.2010
Informace o normě:
Označení normy: IEC 62415-ed.1.0
Datum vydání normy: 19.5.2010
Kód zboží: NS-414598
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 62415-ed.1.0 :
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
Podobné normy:
15.2.1990
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
