Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Ferrite cores - Technology approval schedule (TAS)
Norma vydána dne 12.10.2004
Vybrané provedení:
Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material
(Instrumentation pour la radioprotection - Dispositifs individuels d´alarme aux rayonnements pour la detection du trafic illicite des matieres radioactives)
Norma vydána dne 15.12.2017
Vybrané provedení:
Obsolescence management
(Gestion de l´obsolescence)
Norma vydána dne 29.5.2019
Vybrané provedení:
High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format
(Format d´enregistrement a haute densite sur un systeme a disque CD-R/RW - Format HD-BURN)
Norma vydána dne 24.6.2005
Vybrané provedení:Logic digital integrated circuits - Specification for I/O interface model for integrated circuit (IMIC version 1.3)
Norma vydána dne 20.2.2007
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)
Norma vydána dne 19.5.2010
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS)
Norma vydána dne 26.4.2010
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
(Dispositifs a semiconducteurs - Essais d´ions mobiles pour transistors a semiconducteurs a oxyde metallique a effet de champ (MOSFETs))
Norma vydána dne 22.4.2010
Vybrané provedení:
Semiconductor devices - Metallization stress void test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai sur les cavites dues aux contraintes de la metallisation)
Norma vydána dne 22.4.2010
Vybrané provedení:
Control technology - Rules for the designation of measuring instruments
(Technologie de commande et de regulation - Regles pour la designation des instruments de mesure)
Norma vydána dne 5.11.2008
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 03.07.2025 (Počet položek: 2 207 355)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.