GB - Čínské národní normy - strana 8592

Normy GB - Čínské národní normy - strana 8592

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy GB - strana 8592" dle:    


GB/T 6612-1986 NEPLATNÁ

Titanium alloy TA7 sheet and plate for important applications

NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB/T 6613-1986 NEPLATNÁ

Titanium alloy TC4 sheet and plate for important applications

NEPLATNÁ vydána dne 24.7.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
NA DOTAZ


Není skladem
GB/T 6614-1994 NEPLATNÁ

Titanium and titanium alloy castings

NEPLATNÁ vydána dne 9.5.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB 6615-1986 NEPLATNÁ

Standard method for resistivity of silicon slices with collinear four-probe array measuring

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
15 265.20


do 4 pracovních dnů
GB 6616-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB/T 6616-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 110.10


do 3 pracovních dnů
GB/T 6616-2009 NEPLATNÁ

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NEPLATNÁ vydána dne 30.10.2009

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 129.50


do 3 pracovních dnů
GB 6617-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB/T 6617-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 129.50


do 3 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 85910 až 85920 z celkem 92307 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.