GB - Čínské národní normy - strana 8593

Normy GB - Čínské národní normy - strana 8593

Normy GB jsou čínské národní normy, které vydává Čínský standardizační správní úřad (SAC).
Pod obvyklým názvem normy GB se čínské národní normy využívají po celé Číně a uvádějí sjednocené výrobní požadavky na bezpečnost a kvalitu produktů.
Normy GB jsou často upraveny či přímo vytvářeny podle mezinárodních norem ISO, IEC či na jiné mezinárodní úrovni. I když jsou ve velké míře harmonizovány, normy GB se od mezinárodních norem mohou odlišovat.
Přibližně 15% všech norem GB je závazných a lze je rozpoznat pomocí předpony GB, po které následuje kód normy:
GB - Závazné národní normy
GB/T - Dobrovolné národní normy
GB/Z - Národní řídící technický dokument

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy GB - strana 8593" dle:    


GB 6618-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB/T 6618-1995 NEPLATNÁ

Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
9 148.90


do 3 pracovních dnů
GB 6619-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 2 pracovních dnů
GB/T 6619-1995 NEPLATNÁ

Test methods for bow of silicon slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 110.10


do 3 pracovních dnů
NA DOTAZ


Není skladem
GB 6620-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring warp of silicon slices by noncontacting technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 090.80


do 2 pracovních dnů
GB/T 6620-1995 NEPLATNÁ

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 110.10


do 3 pracovních dnů
GB 6621-1986 NEPLATNÁ

Standard method for measuring surface flatness of polished silicon wafers by noncontact technique

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 090.80


do 2 pracovních dnů
GB/T 6621-1995 NEPLATNÁ

Test methods for surface flatness of silicon polished slices

NEPLATNÁ vydána dne 18.4.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 187.70


do 4 pracovních dnů
GB 6622-1986 NEPLATNÁ

Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 071.40


do 3 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 85920 až 85930 z celkem 92307 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.