Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings
NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2009
Vybrané provedení:Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings
NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2010
Vybrané provedení:Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings
NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2015
Vybrané provedení:Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings
NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2019
Vybrané provedení:Standard Specification for Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Corrugated Sewer Pipe With a Smooth Interior and Fittings
NEPLATNÁ vydána dne 15.2.2020
Vybrané provedení:Standard Test Method for Thickness of Lightly Doped Silicon Epitaxial Layers on Heavily Doped Silicon Substrates Using an Infrared Dispersive Spectrophotometer (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2000
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching
NEPLATNÁ vydána dne 10.5.1998
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.1.2002
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 20.06.2026 (Počet položek: 2 283 412)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.