Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62374:2008-02
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška časově závislého průrazu dielektrika hradel..
NORMA vydána dne 1.2.2008
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62374:2008-02
Datum vydání normy: 1.2.2008
Kód zboží: NS-239814
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 62374:2008-02 :
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.
Podobné normy:
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2010
1.10.2009
1.1.2012
1.12.2003
1.7.2011
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
