Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě..
NORMA vydána dne 1.7.2011
Označení normy: DIN EN 60749-23:2011-07
Datum vydání normy: 1.7.2011
Kód zboží: NS-237812
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.
NEPLATNÁ
1.10.2006
NEPLATNÁ
1.5.2014
1.3.2012
1.4.2014
1.6.2012
1.10.2012
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.