Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 12: Metoda zkoušení ohybové únavy tenkovrstvých materiálů využívající rezonanční vibrace struktur MEMS..
NORMA vydána dne 1.6.2012
Označení normy: DIN EN 62047-12:2012-06
Datum vydání normy: 1.6.2012
Kód zboží: NS-239563
Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.5.2014
NEPLATNÁ
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
Poslední aktualizace: 17.06.2025 (Počet položek: 2 204 825)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.