Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
          Automaticky přeložený název:
          Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 12: Metoda zkoušení ohybové únavy tenkovrstvých materiálů využívající rezonanční vibrace struktur MEMS..        
      
NORMA vydána dne 1.6.2012
    
        Označení normy: DIN EN 62047-12:2012-06
                
                
                
               
                Datum vydání normy:  1.6.2012
                  Kód zboží:  NS-239563
          Počet stran: 31
Přibližná hmotnost: 93 g (0.21 liber)
        Země:          Německá technická norma
        Kategorie:  Technické normy DIN
        
                
              
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 12: Verfahren zur Prüfung der Biege-Ermüdungsfestigkeit von Dünnschichtwerkstoffen unter Verwendung der Resonanzschwingungen bei MEMS-Strukturen.
  NEPLATNÁ
1.11.2012
  NEPLATNÁ
1.11.2012
  NEPLATNÁ
1.5.2014
  NEPLATNÁ
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
      Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů? 
      Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy. 
      Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
    
Poslední aktualizace: 03.11.2025 (Počet položek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.