Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 22: Elektromechanický zkouška tahem metoda pro vodivé tenkých vrstev na pružné podklady.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Označení normy: E DIN EN 62047-22:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-292597
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.