Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 22: Elektromechanický zkouška tahem metoda pro vodivé tenkých vrstev na pružné podklady.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Označení normy: E DIN EN 62047-22:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-292597
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 18.04.2024 (Počet položek: 2 859 866)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.