Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
          Automaticky přeložený název:
          Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 22: Elektromechanický zkouška tahem metoda pro vodivé tenkých vrstev na pružné podklady.        
      
NORMA vydána dne 1.11.2012
    
        Označení normy: E DIN EN 62047-22:2012-11
                
                
                
                Poznámka:    NEPLATNÁ
               
                Datum vydání normy:  1.11.2012
                  Kód zboží:  NS-292597
          Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
        Země:          Německá technická norma (Návrh)
        Kategorie:  Technické normy DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
Poslední aktualizace: 03.11.2025 (Počet položek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.