Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 22: Elektromechanický zkouška tahem metoda pro vodivé tenkých vrstev na pružné podklady.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Označení normy: E DIN EN 62047-22:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-292597
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 04.08.2025 (Počet položek: 2 211 733)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.