Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 21: Zkušební metoda pro Poissonovo poměr tenkého filmu MEMS materiály.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Označení normy: E DIN EN 62047-21:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-292596
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosytsemtechnik.
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 22.10.2026 (Počet položek: 2 207 753)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.