Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové přístroje - Micro - elektromechanická zařízení - Část 21: Zkušební metoda pro Poissonovo poměr tenkého filmu MEMS materiály.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Označení normy: E DIN EN 62047-21:2012-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-292596
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Německá technická norma (Návrh)
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosytsemtechnik.
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.