Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
NORMA vydána dne 1.11.2012
Designation standards: E DIN EN 62047-21:2012-11
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.11.2012
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosytsemtechnik.