DIN EN 60749-23:2011-07

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

NORMA vydána dne 1.7.2011

Německy -
PDF - okamžité stažení (1798.90 CZK)

Německy -

Tištěné (2170.80 CZK)

Německy -

CD-ROM (1836.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-23:2011-07
Datum vydání normy: 1.7.2011
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-23:2011-07 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur.