Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-2:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu..
NORMA vydána dne 1.4.2003
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-2:2003-04
Datum vydání normy: 1.4.2003
Kód zboží: NS-237804
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 60749-2:2003-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.
Podobné normy:
1.7.2004
NEPLATNÁ
1.6.2011
1.9.2003
NEPLATNÁ
1.9.2003
NEPLATNÁ
1.9.2003
1.1.2011
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
