E DIN EN 62483:2012-..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62047-2:2007-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 2: Metody zkoušek v tahu tenkovrstvových materiálů..
NORMA vydána dne 1.2.2007
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62047-2:2007-02
Datum vydání normy: 1.2.2007
Kód zboží: NS-239568
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Anotace textu normy DIN EN 62047-2:2007-02 :
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.
Podobné normy:
1.2.2008
1.6.2011
1.12.2010
1.12.2010
NEPLATNÁ
1.5.2012
NEPLATNÁ
1.5.2014
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
