Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Constant current electromigration test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Elektromigrační zkouška pomocí konstantního proudu.
NORMA vydána dne 1.12.2010
Označení normy: DIN EN 62415:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Kód zboží: NS-239833
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration.
NEPLATNÁ
1.9.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.2.2012
1.12.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.10.2006
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.