E DIN EN 10337:2003-..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62418:2010-12
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.
NORMA vydána dne 1.12.2010
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62418:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Kód zboží: NS-239836
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 62418:2010-12 :
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.
Podobné normy:
1.7.2001
1.7.2001
1.4.2001
1.4.2006
1.8.2005
NEPLATNÁ
1.11.2003
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
