Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Metallization stress void test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Zkouška poruch pokovení způsobených pnutím.
NORMA vydána dne 1.12.2010
Označení normy: DIN EN 62418:2010-12
Datum vydání normy: 1.12.2010
Kód zboží: NS-239836
Počet stran: 19
Přibližná hmotnost: 57 g (0.13 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren zur Metallisierungs-Stressmigration.
1.7.2001
1.7.2001
1.4.2001
1.4.2006
1.8.2005
NEPLATNÁ
1.11.2003
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 24.04.2024 (Počet položek: 2 895 425)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.