E DIN EN 62047-15:20..
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-1:2003-12
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecná ustanovení..
NORMA vydána dne 1.12.2003
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-1:2003-12
Datum vydání normy: 1.12.2003
Kód zboží: NS-237791
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 60749-1:2003-12 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines.
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.11.2012
NEPLATNÁ
1.6.2011
1.4.2014
1.2.2007
NEPLATNÁ
1.7.2012
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
